> > つまり今回みたいにﾄﾗﾌﾞﾙ起こすﾊﾞｯﾃﾘｰっていうのは製造時の気密構造が甘いってことなのかね(;´Д`)
> 気密とかの問題よりも過充電過放電による温度上昇を止められなかった
> DELLの充電回路とSONYの保護回路のどっちかが悪いんじゃないかな

ｾﾙの製造に纏わるﾄﾗﾌﾞﾙって訳じゃないのな(;´Д`)いよいよ以て責任の所在が不鮮明になりそうだ

参考：2006/08/25(金)16時21分13秒